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产品用久了失灵?可能是 SMT 焊点出了微裂纹

发布时间:2026-01-17 09:07浏览次数: 来源于:网络

  在SMT(表面贴装技术)产品的全生命周期中,焊点作为电气连接与机械固定的核心载体,其可靠性直接决定产品的长期稳定运行能力。相较于生产过程中可通过检测排查的虚焊、桥连等显性缺陷,由焊接应力或热循环疲劳引发的焊点微裂纹,具有隐蔽性强、渐进式扩展的特点,往往在产品长期使用后才逐渐暴露,最终导致信号传输中断或功能间歇性失效,成为家电、汽车电子、通信设备等领域产品故障的主要诱因之一。本文将深入剖析焊点微裂纹的形成机理、危害特征,结合行业技术标准与实践经验,提出全流程防控与改进对策,为提升SMT产品长期可靠性提供支撑。

一、SMT焊点微裂纹的核心成因:焊接应力与热循环疲劳

  SMT焊点微裂纹的产生与扩展,本质是焊点在外部作用力与环境应力下,金属组织发生疲劳损伤的过程,其中焊接应力与热循环疲劳是两大核心驱动因素,二者常相互叠加,加 速裂纹的形成与蔓延。

 (一)焊接应力引发的微裂纹

  焊接应力源于SMT生产过程中温度变化、材料特性差异导致的应力累积,主要分为热应力与结构应力两类,均会在焊点内部形成局部应力集中,进而催生微裂纹。热应力产生于回流焊环节,焊点在高温(220-260℃)下熔化成型,冷却过程中,PCB基板、元器件引脚与焊点合金(如SAC305无铅焊料)的热膨胀系数(CTE)存在显著差异——PCB基板(FR-4材质)CTE约为13-17ppm/℃,元器件引脚(铜合金)CTE约为16-18ppm/℃,而无铅焊料CTE约为22-24ppm/℃。这种CTE不匹配导致冷却时各部件收缩速率不同,焊点被强制拉伸或挤压,形成内应力。若冷却速率过快(超过5℃/s),应力无法及时释放,会在焊点与焊盘的结合处、焊点边缘等薄弱部位产生微小裂纹,此类裂纹初始尺寸通常仅几微米,难以通过常规AOI、X-Ray检测发现。

   结构应力则源于产品组装与使用过程中的机械作用力,如PCB板翘曲、元器件封装形变、产品组装时的挤压与振动等。例如,FR-4材质PCB板在量产过程中若存在轻微翘曲,贴装焊接后会通过焊点传递应力;汽车电子、工业控制设备等在运输与使用中遭遇的持续振动,也会使焊点长期承受周期性机械应力,导致应力集中部位的金属晶粒逐渐脱落,形成微裂纹并不断扩展。

 (二)热循环疲劳引发的微裂纹

  对于长期处于高低温交替环境的产品(如户外通信设备、汽车电子、航空航天器件),热循环疲劳是焊点微裂纹产生的主要诱因。产品使用过程中,环境温度的周期性变化(如-40℃~85℃的高低温循环)会使焊点反复经历“升温膨胀-降温收缩”的循环过程,焊点合金组织在持续的热胀冷缩中发生疲劳损耗,这一过程符合金属疲劳失效的“循环累积”规律。

  从微观机理来看,每次热循环都会在焊点内部产生微小的塑性变形,多次循环后,塑性变形累积导致焊点合金晶粒边界出现滑移与分离,形成初始微裂纹。随着循环次数增加(通常数千至数万次),微裂纹会沿晶粒边界或应力集中方向逐渐蔓延,从焊点表面向内部渗透,最终贯穿整个焊点。此外,焊点中的空洞、杂质等缺陷,会成为裂纹扩展的“突破口”,加速疲劳失效进程——实验数据表明,存在15%以上空洞率的焊点,热循环疲劳寿命会缩短40%以上。

二、微裂纹导致的故障特征:信号中断与间歇性失效

  焊点微裂纹的隐蔽性的特点,使其引发的故障具有显著的“延迟性”与“不确定性”,核心表现为信号传输中断与功能间歇性失效,给故障排查带来极大难度。

功能间歇性失效是微裂纹初期的典型表现。当微裂纹未完全贯穿焊点时,焊点仍能维持部分电气连接,但裂纹处的接触电阻会显著升高,且受温度变化、振动等环境因素影响,接触状态会反复切换——低温环境下,裂纹因收缩而闭合,接触电阻恢复正常,产品功能稳定;高温或振动时,裂纹扩张,接触电阻骤增,导致信号衰减、误码,甚至功能暂停。例如,户外5G基站的功率器件焊点若存在微裂纹,可能出现信号时断时续的现象,且故障发生时间无规律,仅在极端温度或强振动工况下高发,常规检测难以定位故障根源。

  当微裂纹持续扩展并贯穿整个焊点时,会导致信号传输完全中断,产品出现永久性故障。此时焊点的机械强度也会大幅下降,可能伴随元器件脱落、焊盘剥离等次生问题。值得注意的是,微裂纹引发的故障与其他失效模式(如元器件损坏、线路腐蚀)易混淆,需通过专业设备(如扫描电子显微镜SEM、显微电阻测试仪)对焊点进行拆解分析,才能确认故障本质。

  从行业数据来看,在使用超过3年的电子设备故障中,由焊点微裂纹引发的失效占比达28%,其中汽车电子、户外通信设备等高温、振动工况下的产品,这一比例可升至40%以上,不仅影响产品口碑,还可能引发安全隐患(如汽车电子控制系统失效、医疗设备故障)。

三、焊点微裂纹的全流程防控与改进对策

  防控SMT焊点微裂纹,需从设计、生产、检测、使用四个维度建立全链条管控体系,核心目标是降低应力累积、提升焊点疲劳抗性、及时识别隐蔽裂纹。

 (一)设计优化:从源头降低应力风险

  设计阶段的优化是防控微裂纹的基础,核心在于减少CTE不匹配与应力集中。一是合理选择材料,优先选用CTE与焊料、元器件匹配度高的PCB基板(如高Tg FR-4、陶瓷基板),对于高温、振动工况产品,可采用金属基板提升导热性与结构稳定性;二是优化焊点设计,扩大焊点与焊盘的接触面积,在超细间距元器件焊盘边缘增加“应力释放槽”,减少冷却与热循环过程中的应力集中;三是优化PCB布局,避免将精密元器件(如BGA、QFP)布置在PCB板边缘、拐角等易发生翘曲与振动的部位,降低机械应力影响。

 (二)生产工艺优化:减少应力累积与缺陷

  生产环节需通过工艺调整,降低焊接应力与焊点缺陷,提升焊点可靠性。回流焊工艺方面,优化温区参数,将冷却速率控制在2-5℃/s,延长恒温区时间(通常60-90s),使应力充分释放;同时严格控制峰值温度与保温时间,避免焊料过度氧化或晶粒粗大,提升焊点合金的疲劳抗性。焊膏与钢网方面,选用高活性、低残留的助焊剂,减少焊点内部杂质;优化钢网开孔设计,确保焊点焊膏量充足(焊点高度为引脚高度的1/2-2/3),降低空洞率。此外,加强PCB板与元器件的存储管理,避免PCB翘曲、元器件受潮,减少结构应力与焊接缺陷。

 (三)检测技术升级:识别隐蔽微裂纹

  针对微裂纹的隐蔽性,需结合多种检测技术,实现从生产到使用的全周期监测。生产阶段,采用高精度X-Ray检测设备(分辨率≤1μm)排查焊点空洞、缩孔等缺陷,此类缺陷是裂纹扩展的源头;对关键产品(如汽车电子、医疗设备),可通过热循环测试(-40℃~85℃,1000-5000次循环)加速微裂纹显现,提前筛选不合格产品。使用阶段,对故障产品采用SEM结合能谱分析(EDS),观察焊点微观结构,定位微裂纹位置与扩展路径,追溯失效根源;同时可采用在线电阻监测技术,对关键焊点的接触电阻进行实时监测,提前预警微裂纹风险。

 (四)使用与防护优化:降低环境应力影响

  产品使用与防护环节的优化,可延长焊点使用寿命。对于高温、振动工况产品,在元器件与PCB之间添加导热硅胶、缓冲垫,吸收振动能量与热量,减少应力传递;户外产品需做好密封防护,避免湿气、腐蚀性气体侵入,防止焊点氧化加剧裂纹扩展。此外,制定合理的产品维护周期,对关键设备的SMT焊点进行定期检测与维护,及时更换存在裂纹风险的部件。

四、结语

  SMT焊点微裂纹引发的长期使用失效,是制约电子设备可靠性的核心瓶颈,其形成与扩展是焊接应力、热循环疲劳等多因素叠加的结果,且具有极强的隐蔽性与延迟性。解决此类问题,需跳出“仅关注生产过程”的局限,建立“设计-生产-检测-使用”全链条防控体系,通过材料与结构优化减少应力来源,通过工艺改进提升焊点质量,通过高精度检测识别隐蔽缺陷。随着电子设备向高精密、高可靠性、极端工况方向发展,对焊点抗裂纹能力的要求将进一步提升,未来需结合AI算法、大数据分析与新型封装技术,实现微裂纹的精准预判与主动防控,推动SMT产品长期可靠性的持续提升。

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